衍射時差法超聲檢測技術(shù)(Time of Flight Diffraction Technique，簡稱TOM)是依靠超聲波與缺陷尖端或端部相互作用后發(fā)出的衍射波來檢測缺陷，并對缺陷進(jìn)行定位、定量的一種無損檢測技術(shù)。

TOM檢測技術(shù)需要專用的掃查裝置，掃查裝置帶位置傳感器，在實(shí)施掃查的過程中實(shí)時成像(A掃描、D或B掃描)，檢測的數(shù)據(jù)可保存，通過專用的數(shù)據(jù)分析處理軟件可進(jìn)行質(zhì)量評判，TOM檢測技術(shù)采用全波射頻RF信號記錄和TOFD圖像顯示，故對缺陷評價時可利用的信息缺大，檢測結(jié)果更加直觀，結(jié)果分析更加科學(xué)。

TOM檢測技術(shù)在檢測精度、可靠性、降低成本、提高效率、環(huán)境保護(hù)等各個方面表現(xiàn)均十分優(yōu)異。與傳統(tǒng)的超聲檢測方法相比，具有檢出能力強(qiáng)、精度高、檢測方便、成像直觀等優(yōu)點(diǎn),有常規(guī)波幅法檢測不具備的長處。TOM可根據(jù)被檢材料的幾何尺寸充分利用直通波的相位和缺陷端部的時間差信息，來對缺陷進(jìn)行測深定高。